{"id":121,"date":"2026-03-19T10:52:19","date_gmt":"2026-03-19T02:52:19","guid":{"rendered":"http:\/\/www.envsin-testchamber.com\/?p=121"},"modified":"2026-03-19T10:59:06","modified_gmt":"2026-03-19T02:59:06","slug":"electronics-semiconductor","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.envsin-testchamber.com\/de\/electronics-semiconductor\/","title":{"rendered":"Elektronik und Halbleiter"},"content":{"rendered":"<p>Elektronische Bauteile und Halbleiterprodukte sind die Grundlage der modernen Industrie, und ihre Zuverl\u00e4ssigkeit wirkt sich direkt auf die Leistung und Lebensdauer der Endprodukte aus. Mit der Entwicklung elektronischer Produkte in Richtung Miniaturisierung und Hochintegration werden die Produkte empfindlicher gegen\u00fcber Umweltfaktoren wie Temperatur und Feuchtigkeit.<\/p>\n<p>Dieser Pr\u00fcfplan bietet Kunden aus der Elektronikindustrie umfassende Dienstleistungen zur \u00dcberpr\u00fcfung der Umweltbelastung und der Zuverl\u00e4ssigkeit. Durch die Simulation verschiedener Umweltbedingungen, denen Produkte w\u00e4hrend ihres gesamten Lebenszyklus ausgesetzt sein k\u00f6nnen, helfen wir unseren Kunden, fr\u00fchzeitige Ausf\u00e4lle zu erkennen, Produktionsprozesse zu optimieren und die Produktqualit\u00e4t zu verbessern.<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p>Anwendbare Normen:<br \/>\nJESD22<br \/>\nIEC 60068<br \/>\nMIL-STD-883<br \/>\nIPC\/JEDEC<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p>Projekt testen:<br \/>\n1. Tests f\u00fcr Lagerung und Betrieb bei hohen Temperaturen 2. Betrieb und Lagerung bei niedrigen Temperaturen 3. Temperaturwechsel- und Temperaturschockpr\u00fcfungen 4. Pr\u00fcfung der Vorspannung bei feuchter Hitze und des Kochens unter hohem Druck 5. Umweltstress-Screening (ESS)<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<p>Typische Anwendungen:<br \/>\n1. Integrierte Schaltungen und Halbleiterbauelemente 2. PCB-Platten und PCBA-Komponenten 3. Steckverbinder und Relais 4. Leistungsmodule und Sensoren<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Electronic components and semiconductor products are the foundation of modern industry, and their reliability directly affects the performance and service life of end products. With the development of electronic products towards miniaturization and high integration, products are more sensitive to environmental factors such as temperature and humidity. This testing plan provides comprehensive environmental stress screening [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":122,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[13],"tags":[],"class_list":["post-121","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-application"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.envsin-testchamber.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/121","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.envsin-testchamber.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.envsin-testchamber.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.envsin-testchamber.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.envsin-testchamber.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=121"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/www.envsin-testchamber.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/121\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":123,"href":"https:\/\/www.envsin-testchamber.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/121\/revisions\/123"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.envsin-testchamber.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media\/122"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.envsin-testchamber.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=121"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.envsin-testchamber.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=121"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.envsin-testchamber.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=121"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}